NEC面部識別技術在美國NIST測評中榮獲第一名

        國標準技術研究院(NIST，注1)受美國國土安全部委托，舉辦了“廠商評價項目?靜止面部圖像部門”的評比測試。在此次測試中，NEC的面部識別技術榮獲了世界第一。NEC能夠在世界主要的廠商中脫穎而出獲此殊榮，有力證實了其在面部識別方面的技術優勢。

        NEC參加的“靜止面部圖像部門”測評，是以高像素數碼相機所拍攝的面部圖像、IC護照中被縮小壓縮的面部圖像、以及在大廳及走廊等光線不充分或者在室外太陽直射的不利條件下所拍攝的面部圖像為測評對象。由于這些限制條件在實際應用中確實會遇到，所以此次測評所獲得的評價，也可以用來證明實際應用中技術性能的指數。

        在這次測評中，NEC的誤判率（將他人誤認為本人的概率）僅為0.1%，比對失敗率（沒有識別出本人的概率）為2~4%（注2），以明顯優勢獲得第一名。


        NEC之所以能夠達到如此高的識別率算法，乃是采用了2002年上市的面部特征點抽取/面部比對引擎“NeoFace”（注3）中的多重比對面部特征點抽取法和空間攝動法,并在此基礎上應用了NEC中央研究院開發的不受照明、面部的朝向等環境影響的個人特征抽取新技術，才得以實現的。

        NIST舉辦的這次技術廠商測評活動，是針對惡性、大范圍、多樣型犯罪，以積極促進面部識別技術的研發和早日應用為目的。此次測試，得到了美國國土安全部、司法部、FBI、國防部的支持與贊助，測試結果受到了世界的廣泛關注。

        NEC在全世界率先開始生物識別技術的研究與開發，其中指紋認證技術研發擁有40年歷史，面部識別技術也有20年歷史。在NIST主辦的技術評比中，NEC曾于2004年獲得“指紋識別技術”第一名。此次，在面部識別技術領域又獲得第一名的殊榮，再次有力證實了NEC在生物識別技術領域擁有的實力。NEC的面部識別技術不僅在日本，在香港（中國）、智力等國家和地區，也被廣泛應用于警察、司法機關、出入境管理、娛樂設施等領域。今后，NEC會再接再厲，繼續向世界提供采用最高技術的生物識別解決方案。

有關NIST的評比結果，請參考NIST主頁。

關于此次評比活動
http://face.nist.gov/mbgc/mbgc_presentations.htm

關于評比結果
http://face.nist.gov/mbgc/2009/FACE_V2_FINAL.pdf

(注1)NIST：National Institute of Standards and Technology

(注2)誤判率和比對失敗率是相反的關系。一般說來如果誤判率達到0.1%的高精確度，想保持比對失敗率在2～4％十分困難。

(注3)關于NeoFace
http://www.necsl.com.cn/solution/security/NEO_FACE/index.shtml